Uutishaku

 UUTISET  
  

 ...uusimmat
 ...tietoliikenne
 ...tietokoneet
 ...piiriuutuudet
 ...suunnittelu
 ...sulautetut
 ...mittaus
 ...trendit
 ...tuoteuutiset

 ...

TAPAHTUMAT
WWW-LINKIT
DIGILEHTI
ARKISTO
 ...uusin numero
 ...tulossa
 SOFTAPANKKI



  

TILAUKSET
 ...opiskelijoille
TOIMITUS
MEDIAINFO



 



Etsi lähin lehtipiste,jossa Prosessori on myynnissä antamalla postinumero tai paikkakunnan nimi:


 


9.9.2010
 
3.9.2010 9:50:00
Mittaus & Testaus 2010

Skooppirintamalla kuhisee
Mittaus & Testaus -tapahtuma Helsingin Malminkartanossa veti kahtena päivänä paikalle runsaat tuhat henkeä*. Näytteilleasettajia paikalla oli 71 kappaletta.

Rohde & Shwarzin uudet oskilloskoopit vetivät odotetusti osastolle runsaasti aiheesta kiinnostuneita. Rohde & Schwarzin Jarno Tervo esitteli yhtiönsä uusia oskilloskooppeja ja kertoi, että ne on tehty yhtiön perusfilosofian mukaan erottumaan muiden valmistajien laitteista.

Ne perustuvat hyvin vahvasti piiritekniikkaan ja ovat siten erittäin nopeita. Lisäksi niiden erityisominaisuuksina on nykyaikainen kosketusohjauskäyttö ja digitaalinen liipaisu, joka tuottaa analogista liipaisua pienemmän värinän. Hän kertoi myös, että nykyisten perussovellusten lisäksi ensi vuonna laitteisiin tuodaan lisää sovellusmittaustoimintoja. lisää...
 
   

 

Skooppeja, optisia ja vihreitä mittauksia

Mittaus & testaus vielä tänään

Vuosittainen mittaus- ja testausalan tapahtuma alkoi eilen AEL:n tiloissa Helsingin Malminkartanossa. Esillä on yli 70 alan yritystä tuotteineen ja palveluineen. Tapahtuman järjestävät AEL ja Prosessori-lehti nyt 19. kerran. Tapahtuma on avoinna vielä tänään torstaina kello 16 asti.

Mukana on todellisia maailmanuutuuksia. Yksi kiinnostavimmista on saksalaisen Rohde & Schwarzin ensimmäinen oma oskilloskooppimallisto. Tarjolla on myös laajalti mittauslaitteiden merkkikirjo suurista pieniin erikoismerkkeihin. lisää...

 



(c) Sanoma Magazines Finland 2010. Materiaalin kopioiminen muuhun kuin omaan käyttöön kielletty. Palaute sivuista: webmasteri@prosessori.fi






UUSIMMAT

Skooppirintamalla kuhisee
Mittaus & testaus vielä tänään
Testausväki kokoontuu Helsinkiin
Tektronix kiihdyttää skooppeja SiGe-piireillä
Kannettavan analysaattorin kaista leveni
Virusvaara sähköverkon ohjauksissa
Tiedonkeruuta kentältä Ethernetin avulla
Vektoripiirianalysaattori PXI-kehikkoon
Älytaloja tavallisille asujille
Rohde & Schwarz mukaan skooppibisnekseen
DNA kirii M2M-yhteyksissä
Suomi myy tiedustelujärjestelmiä
Avoin anturiverkkojen kehitysalusta
Finero tavoittelee maailmanmarkkinoita
Pikatestereistä kasvava vientiala
OBD-II:n kautta auto sekaisin
National Instruments esittelee testaustrendit
RFID nopeuttaisi itärajaamme
Maailman nopein skooppi Agilentilta
Nethawk ja Aeroflex yhdistivät LTE-testinsä
UUTISVIIKKO